2角度式光散乱、粘度、示差屈折率（RＩ）の3種の検出器が一体になった検出器です。
GPC/SECと接続することで、高分子の絶対分子量分布、分子サイズ分布、固有粘度分布を測定できます。
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GPC/SECカラムから分離溶出した高分子溶液のような希薄溶液条件下では、特定の高分子溶液にレーザー光を照射した際に発生する光散乱強度は、高分子の分子量と濃度に比例します。その際の光散乱強度は、溶液中の高分子の分子サイズが大きくなると、大きな角度依存性を持ちますが、蛋白質や、多くの合成高分子においては、角度依存性が無い、もしくは緩やかな直線的なものであることが殆どです。 よって、多くの高分子において、低角度（15°）と90°の2角度の光散乱強度を測定することで、絶対分子量、分子サイズ（回転半径）を算出することができます。
静的光散乱法にて、特定の高分子の分子量を算出するためには、その高分子溶液の光散乱強度の他、濃度情報が必要です。SEC/GPCカラムより溶出した高分子の濃度は、RI検出器のピーク高さから求めることができます。 光散乱強度と示差屈折率の大きさは、共に屈折率濃度増分（dn/dc）に依存します。このdn/dcは光源波長に依存するため、GPC-光散乱測定をする上で、光散乱検出器と示差屈折率の光源波長を合わせることで、より正確な分子量を算出できます。
粘度検出器とRI検出器を併用することで、GPCユニバーサルキャリブレーション法による、より正確な分子量測定を行えます。 また、粘度検出器とRI検出器から算出できる高分子の固有粘度〔η〕は、Mark Houwink-Sakuradaの粘度式に基づき高分子の分子量、分子構造にも依存します。よって光散乱検出器より得られる絶対分子量と固有粘度の双方の情報を比較することにより、溶液中の高分子の分子形態や分岐度評価を行えます。
通常のポリスチレンと物性の異なる臭素化ポリスチレンの正確な分子量分布を測定し、
Mark Houwink-Sakurdaプロットによる構造の違いを明確に示すことができています。
| 光散乱検出器部 | |
|---|---|
| 検出器数 | 2角度（90° 及び 15°） |
| レーザー波長及び出力 | 660 nm / 50 mW |
| サンプルセル容量 | 10 µL |
| 光散乱容量 | 0.01 µL |
| 温度制御 | 30-60℃ |
| 温度安定性 | ±0.2℃ |
| 粘度検出器部 | |
| せん断速度 | 3000 s-1 |
| 感度 ηsp |
1×10-5 Pa.s |
| 温度制御範囲 | 30-60℃ |
| 温度安定性 | ±0.2℃ |
| RI検出器部 | |
| セル容量 | 6 µL |
| 最大耐圧 | 350 kPa (50 psi) |
| 光源波長 | 660 nm |
| 温度制御範囲 | 30-60℃ |
| 温度安定性 | ±0.2℃ |
| 装置全体 | |
| 寸法（2検出器まで搭載時） | W490mm × H390mm × D400mm |
| 寸法（3検出器搭載時） | W490mm × H650mm × D400mm |
